Bỏ qua để đến Nội dung
Bộ lọc
Cửa hàng
14 mục được tìm thấy.
Xóa bộ lọc
Solar & Pin Lithium
Hàn chip lật Flip-chip
Máy hàn chip lật ACCµRA100 SET SAS

ACCµRA100 sử dụng công nghệ trục cơ giới hóa bán tự động, đạt độ chính xác sau hàn vượt trội ± 0.5 µm và lực ép lớn 1-1000 N. Thiết bị mang lại độ lặp lại cao, chi phí tối ưu, là giải pháp lý tưởng phục vụ nghiên cứu (R&D) và ứng dụng đa dạng như Flip-Chip, Die attach, MEMS, 3D Packaging.

Đóng gói tiên tiến & Kiểm thử
Máy hàn dây siêu âm tự động F&S Bondtec 5810

Máy hàn dây Ball-Wedge tự động 5810 F&S Bondtec sở hữu đầu hàn có thể hoán đổi linh hoạt cùng hệ thống nhận diện hình ảnh thông minh. Thiết bị mang lại độ chính xác lặp lại ±3 µm, vận hành hoàn toàn tự động không phụ thuộc người vận hành để tối ưu hóa năng suất. Sản phẩm là giải pháp lý tưởng cho các ứng dụng R&D, sản xuất thử nghiệm (Pilot Manufacturing) và sản xuất quy mô vừa.

Lắng đọng hơi vật lý (PVD)
Hệ thống lắng đọng màng mỏng AXXIS
AXXIS là hệ thống lắng đọng màng mỏng PVD đa năng được thiết kế cho các hoạt động nghiên cứu và phát triển R&D yêu cầu nhiều kỹ thuật phủ màng khác nhau trên cùng một thiết bị. Hệ thống cho phép kết hợp phún xạ Magnetron, bay hơi nhiệt và bay hơi chùm điện tử đồng thời hỗ trợ đồng lắng đọng (co-deposition) để tạo các màng đa thành phần hoặc hợp kim phức tạp.
Lắng đọng hơi vật lý (PVD)
Hệ thống lắng đọng hơi vật lý PRO Line PVD 200

Hệ thống PRO Line PVD 200 nâng tầm năng suất nghiên cứu với khả năng xử lý wafer cỡ lớn lên đến 8 inch. Hệ thống là giải pháp hoàn hảo giúp bạn rút ngắn thời gian thử nghiệm, tạo ra lớp màng mỏng đồng đều tuyệt đối cho các ứng dụng công nghiệp tương lai.

Thiết bị nghiên cứu cơ bản
Buồng thao tác siêu sạch Glove Box G(Box)
Hệ thống tủ thao tác găng tay dòng G(BOX) Series thuộc phân khúc thiết bị mô-đun kiểm soát áp suất và độ ẩm (Modular Glove Box under Regulated Atmosphere) của Jacomex, được thiết kế chuyên dụng cho các ứng dụng khoa học và công nghiệp. Thiết bị sở hữu cấu trúc linh hoạt, dễ dàng cấu hình và nâng cấp mở rộng, mang lại giải pháp bảo vệ sản phẩm tối ưu trong môi trường kiểm soát độ ẩm hoặc khí quyển giảm nồng độ oxy chống cháy nổ.
Đóng gói tiên tiến & Kiểm thử
Máy kiểm tra mối hàn tự động F&S Bondtec 8600C
F&S Bondtec 8600C là máy kiểm tra mối hàn tự động điều khiển bằng PC, hỗ trợ test pull và shear trên diện tích lớn. Hệ thống trang bị các đầu đo linh hoạt (Pullheads đến 5000 cN, Shearheads đến 5000 cN), đáp ứng đa dạng dải lực và tối ưu hóa quy trình kiểm tra chất lượng trong ngành bán dẫn, pin và năng lượng mặt trời.
Lắng đọng hơi vật lý (PVD)
Hệ thống lắng động màng mỏng KDF In-Line

KDF In-Line PVD Solutions (thuộc tập đoàn Kurt J. Lesker) là dòng thiết bị phún xạ màng mỏng theo mẻ liên tục (batch in-line) tiên tiến, sở hữu độ tin cậy cơ khí vượt trội cùng chi phí sở hữu (CoO) thấp nhất trong ngành công nghiệp. Khác với các hệ thống dạng cụm (cluster tools) cồng kềnh, cấu trúc phân làn liên tục của KDF giúp tối ưu hóa không gian, đơn giản hóa quy trình vận hành và bảo trì, đồng thời mang lại bước nhảy vọt về độ đồng đều của màng phủ, sản lượng đầu ra và độ ổn định quy trình. Hệ thống được thiết kế linh hoạt, đáp ứng hoàn hảo từ quy mô nghiên cứu phát triển (R&D) cho đến sản xuất công nghiệp khối lượng lớn trong các lĩnh vực bán dẫn, vật liệu mới, thiết bị y tế và màn hình phẳng.

Hàn chip lật Flip-chip
Máy hàn chip lật tự động FC300 SET SAS

FC300 tích hợp công nghệ căn chỉnh song song tuyệt đối trong phạm vi 1 µrad, đạt độ chính xác sau hàn cao ± 0.3 µm và dải lực cực rộng 1-4000 N. Thiết bị mang lại độ lặp lại vượt trội, khả năng cấu hình linh hoạt từ R&D đến dây chuyền sản xuất thử nghiệm. Hệ thống ứng dụng chuyên sâu cho đóng gói linh kiện cấu trúc siêu mịn (< 10 µm), 3D Integration, cảm biến hình ảnh X-Ray/Infrared, hiển thị MicroLEDs và Silicon Photonics.

Hàn chip lật Flip-chip
Máy hàn chip lật ACCµRA OPTO SET SAS

ACCµRA OPTO sở hữu công nghệ trục cơ giới hóa kết hợp dải lực ép cực thấp 0.2 - 10 N. Thiết bị đạt độ chính xác sau hàn ± 0.5 µm, mang lại độ lặp lại quy trình cao và tính linh hoạt tuyệt vời. Đây là giải pháp tối ưu cho các ứng dụng chuyên sâu như Optoelectronics (Quang điện tử) và Silicon Photonics. 

Hàn chip lật Flip-chip
Máy hàn chip lật thủ công ACCµRA M SET SAS

ACCµRA M sử dụng công nghệ vận hành thủ công kết hợp hệ thống hỗ trợ cơ khí độ chính xác cao, đạt độ chính xác sau hàn ± 3 µm và dải lực nén tối đa 100 N. Thiết bị mang lại tính linh hoạt tuyệt đối, vận hành trực quan dễ dàng với mức chi phí đầu tư tối ưu nhất, là giải pháp lý tưởng phục vụ cho mục đích giáo dục, thử nghiệm quy trình ban đầu và các ứng dụng R&D cơ bản.

Hàn căn chỉnh tại chỗ (In-situ)
Máy hàn và căn chỉnh Wafer AWB-08 AML

Máy hàn và căn chỉnh wafer AWB 08 chuyên dụng cho kích thước 6" và 8". Thiết bị tích hợp quy trình căn chỉnh và hàn chính xác 1 µm trong một buồng chân không, lực nén tới 40 kN. Đây là giải pháp lý tưởng cho ứng dụng MEMS nâng cao, đóng gói 3D và sản xuất thử nghiệm hiệu suất cao quy mô phòng thí nghiệm chuẩn công nghiệp.

Lắng đọng lớp nguyên tử (ALD)
Hệ thống lắng đọng lớp nguyên tử TFS 200
Beneq TFS 200 là thiết bị lắng đọng lớp nguyên tử (ALD) phổ biến nhất trong nghiên cứu học thuật và R&D doanh nghiệp. Nhờ cấu hình đa dạng và khả năng nâng cấp linh hoạt, hệ thống đáp ứng mọi nhu cầu chuyên biệt của phòng thí nghiệm. Thiết bị hỗ trợ nhiều ứng dụng tiên tiến từ màng chắn bảo vệ, bán dẫn, pin mặt trời đến linh kiện siêu dẫn.
Lắng đọng lớp nguyên tử (ALD)
Hệ thống cụm máy ALD công nghiệp Beneq Transform®

Beneq Transform® là hệ thống ALD chuẩn công nghiệp cao cấp cho sản xuất hàng loạt kỷ nguyên "More-than-Moore". Máy tích hợp cả Thermal ALD và PEALD, xử lý linh hoạt phiến bán dẫn từ 3" đến 8" (lộ trình lên 12"). Đây là giải pháp màng mỏng cốt lõi cho Điện tử công suất (GaN, SiC), RF, MEMS, cảm biến, MicroLED và Quang tử học.

Kiểm tra và đo lường Wafer
Hệ thống kiểm tra Hyperspectral VEreveal® PVA TePla

VEreveal® kết hợp độc đáo giữa quang phổ quang học và công nghệ hình ảnh siêu phổ (hyperspectral) để kiểm tra bề mặt không phá hủy. Thiết bị cho phép đánh giá toàn diện các thuộc tính vật liệu, độ dày lớp phủ và phát hiện khuyết tật, nhiễm bẩn trên wafer lên đến 300mm với độ chính xác cao và tốc độ nhanh, phù hợp cho kiểm soát chất lượng sản xuất.

Đang hiển thị 14 trong 14 kết quả