AttoMap-310 cung cấp khả năng lập bản đồ nguyên tố vi lượng, độ nhạy vượt trội gấp 1000 lần SEM-EDS. Công nghệ nguồn tia X độc quyền từ Sigray cho phép đạt độ phân giải xuống dưới < 3-5µm và tốc độ lên tới 5ms/điểm, là giải pháp đột phá cho nghiên cứu bán dẫn, khoáng vật học và khoa học vật liệu.

Danh mục sản phẩm của SPECS đã được mở rộng với dòng hệ thống quang phổ XPS ProvenX, đại diện cho đỉnh cao từ nền tảng kiến thức rộng lớn của chúng tôi trong việc phát triển và sản xuất các hệ thống phân tích toàn diện nhằm đáp ứng những yêu cầu khoa học khắt khe nhất. ProvenX bao gồm một loạt các hệ thống XPS chuyên dụng cho ARPES, µ-ARPES, Kính hiển vi động lượng (Momentum Microscopy), XPS/UPS cũng như NAP-XPS.

Là máy nhiễu xạ điện tử ngang chuyên dụng đầu tiên trên thế giới, ELDICO ED-1 kết hợp nguồn tia 160 keV và đầu dò DECTRIS QUADRO. Thiết bị đạt độ phân giải <0.84 Å, giúp giải mã cấu trúc tinh thể nano (10–1000 nm) nhanh chóng. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu cho nghiên cứu dược phẩm, vật liệu pin và hóa chất nông nghiệp.

EnviroESCA của SPECS là hệ thống quang phổ electron phân tích hóa học trong điều kiện môi trường thực tế nhờ công nghệ (N)AP-XPS đột phá. Thiết bị hoạt động ở áp suất lên tới hàng trăm mbar, tích hợp nguồn tia X đơn sắc Al Kα micro-focused và Environmental Charge Compensation giúp khử nạp nền tự động. EnviroESCA rút ngắn tối đa thời gian từ nạp đến đo mẫu, lý tưởng cho nghiên cứu vật liệu sinh học, polyme, pin, xúc tác và chất lỏng

SPECS FE-LEEM/PEEM P90 Series là hệ thống kính hiển vi điện tử bề mặt thế hệ mới, kết hợp đột phá giữa kỹ thuật LEEM và PEEM trong một thiết kế mô-đun tối giản, siêu ổn định. Được trang bị nguồn súng phát xạ trường lạnh (Cold Field Emission Gun) và bộ lọc năng lượng tích hợp, hệ thống mang lại khả năng phân tích phổ vi mô và hiển thị ảnh cấu trúc màng mỏng với độ phân giải không gian vượt trội dưới 2nm. Đây là giải pháp phân tích tối ưu cho các nghiên cứu động học bề mặt in situ, khoa học vật liệu tiên tiến và công nghệ nano

Apex XCT-150 là một kính hiển vi X-ray mang đến những kết quả không tưởng khi cho hình ảnh 3D độ phân giải sub-micron chỉ trong vài phút. Là công cụ tiên tiến trong phân tích lỗi và đóng gói ngành công nghiệp bán dẫn. Hình ảnh có độ phân giải không gian 0,5 micron ở bất cứ đâu trên các mẫu có đường kính lên tới 300 mm. Với Apex XCT, có thể hợp lý hóa quy trình công việc phân tích lỗi bằng cách chụp ảnh toàn bộ các đóng gói, tấm bán dẫn và PCB còn nguyên vẹn, giảm thiểu việc chuẩn bị mẫu tiêu tốn thời gian và phải phá huỷ mẫu.

SPECS EnviroMETROS là thế hệ hệ thống XPS đo lường bề mặt (Surface Hybrid Metrology) mang tính cách mạng, được thiết kế chuyên dụng cho việc phân tích thành phần hóa học theo chiều sâu của màng mỏng từ quy mô phòng thí nghiệm đến nhà máy sản xuất bán dẫn. Hệ thống tích hợp cốt lõi kỹ thuật quang phổ ảnh điện tử tia X phân giải góc (ARXPS) tự động hóa hoàn toàn, kết hợp linh hoạt đa nguồn năng lượng tia X và khả năng vận hành trong dải áp suất cực rộng từ chân không siêu cao (UHV) đến cận áp suất khí quyển (NAP). Đây là giải pháp tối ưu để phân tích cấu trúc lớp và đặc tính vật liệu mà không phá hủy mẫu.