Bỏ qua để đến Nội dung
Bộ lọc
Cửa hàng
119 mục được tìm thấy.
Tất cả sản phẩm
- 119 mục
Hệ siêu lạnh
Tủ lạnh pha loãng nghiên cứu lượng tử Bluefors LH series
Bluefors LH là hệ thống tủ lạnh pha loãng helium dạng ngang, cung cấp môi trường nhiệt độ mili-Kelvin ổn định cho các ứng dụng đo lường cryogenic và nghiên cứu lượng tử. Thiết kế hỗ trợ vận hành ở nhiều góc nghiêng, phù hợp cho detector cryogenic, beamline, quang học lượng tử và các thí nghiệm nhiệt độ siêu thấp yêu cầu độ ổn định cao
Hệ siêu lạnh
Hệ siêu lạnh cryogenic 1 Kelvin lượng tử Bluefors XLDHe
Bluefors XLDHehp là hệ thống cryogenic 1K công suất làm lạnh cao, cung cấp môi trường nhiệt độ thấp ổn định cho các ứng dụng lượng tử và đo lường cryogenic hiệu năng cao. Hệ thống hỗ trợ tải nhiệt lớn, wiring mật độ cao và đo RF/DC độ nhiễu thấp, phù hợp cho spin qubit, detector cryogenic và nghiên cứu nhiệt độ siêu thấp.
Hệ siêu lạnh
Hệ thống tủ lạnh pha loãng 1K side-loading XLDHesl
Bluefors XLDHesl là hệ thống cryogenic 1K side-loading tích hợp đo lường, cung cấp môi trường nhiệt độ thấp ổn định cho các ứng dụng lượng tử và nghiên cứu cryogenic hiệu năng cao. Thiết kế side-loading hỗ trợ wiring mật độ cao, mở rộng linh hoạt và thay thế hạ tầng đo lường nhanh chóng cho các thí nghiệm quantum phức tạp.
Hệ siêu lạnh
Trạm đo cryogenic 1K LDHe
Hệ thống đo lường cryogenic 1K sử dụng helium, được thiết kế cho các thí nghiệm nhiệt độ cực thấp trong nghiên cứu vật liệu siêu dẫn, vật lý lượng tử và thiết bị quantum. Giải pháp tối ưu cho phòng thí nghiệm R&D hiện đại.
Hệ siêu lạnh
Trạm đo cryogenic 1K SDHe
Hệ thống đo lường cryogenic 1K sử dụng helium (SDHe), thiết kế nhỏ gọn cho các thí nghiệm nhiệt độ thấp trong nghiên cứu vật liệu siêu dẫn, vật lý lượng tử và công nghệ quantum. Giải pháp linh hoạt cho phòng thí nghiệm R&D hiện đại.
Hệ siêu lạnh
Trạm đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử
Hệ thống đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử, cho phép đặc trưng hóa thiết bị quantum và mạch siêu dẫn ở nhiệt độ cực thấp, hỗ trợ nghiên cứu và phát triển công nghệ quantum computing trong môi trường wafer-level.
Quang khắc Laser không mặt nạ (MLA)
Quang khắc Laser không mặt nạ MLA 300
MLA 300 được tối ưu cho sản xuất khối lượng lớn. Công nghệ Spatial Light Modulator (SLM) cho phép hiệu chỉnh biến dạng theo từng die, tự động lấy nét theo bề mặt cong, tương thích với SECS/GEM. Loại bỏ hoàn toàn chi phí và rắc rối của mask vật lý. Ứng dụng trong sản xuất MEMS, cảm biến, ASIC, advanced packaging, power electronics.

Quang khắc Laser không mặt nạ (MLA)
Quang khắc tạo mặt nạ bán dẫn ULTRA
ULTRA là máy quang khắc dùng hai SLM tốc độ cao. Độ chính xác chồng lớp 30 nm, CD uniformity 30 mm, kích thước nhỏ nhất 500 nm. Laser DPSS 355 nm giảm 80% chi phí vận hành. Sản xuất mask cho bán dẫn, tích hợp dễ dàng vào xưởng sản xuất mask.

Lắng đọng hơi vật lý (PVD)
Lắng đọng màng mỏng siêu chân không LAB Line

Lab Line đại diện cho bước đột phá công nghệ trong việc chế tạo màng mỏng phân khúc nghiên cứu chất bán dẫn và linh kiện quang điện tử tiên tiến. Cơ chế cốt lõi của hệ thống dựa trên việc thiết lập và duy trì một môi trường chân không siêu cao (UHV) nghiêm ngặt trước và trong suốt quá trình phún xạ magnetron.

Quang khắc Laser không mặt nạ (MLA)
Quang khắc Laser không mặt nạ VPG 300 DI
VPG 300 DI là máy direct write lithography kế thừa công nghệ từ dòng VPG (Volume Pattern Generator) dùng trong sản xuất mask, VPG 300 DI được trang bị bàn Zerodur, giao thoa kế vi sai, laser DPSS 355 nm. Độ phân giải xuống 500 nm, căn chỉnh lớp 2 (global) đạt 100 nm. Lý tưởng cho R&D công nghiệp, sản xuất khối lượng nhỏ, mix-and-match với stepper.

Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo màng mỏng offline cho OLED Xelas
Sở hữu công nghệ quang phổ RT-Method độc quyền, hệ thống đo Xelas LAB/SCAN-oled cho phép xác định độ dày (2–500nm) và hằng số quang học (n&k) hoàn toàn không tiếp xúc. Đây là giải pháp đo lường lý tưởng giúp kiểm soát chất lượng và R&D màng mỏng linh kiện OLED, vật liệu hữu cơ và điện cực ITO.
Kiểm tra và đo lường Wafer
Quang phổ đo màng mỏng pin mặt trời Helios SCAN-tn
Ứng dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, hệ thống đo lớp phủ Helios SCAN-tn cung cấp khả năng phân tích độ dày và chiết suất màng mỏng Silicon Nitride với tốc độ <0.5s/điểm. Đây là giải pháp đo không tiếp xúc dành riêng cho các tấm wafer pin mặt trời, giúp tối ưu hóa quy trình kiểm soát chất lượng lớp chống phản xạ (AR) một cách toàn diện.
Tổng hợp & Chế tạo vật liệu
Camera kiểm soát khe hở trong lò kéo Silicon ETA-SiCAM

Thiết bị đo khoảng cách khe hở ETA-SiCAM sở hữu thiết kế quang học được cấp bằng sáng chế, cung cấp độ chính xác <0.5mm và tốc độ đo 5Hz. Đây là giải pháp tối ưu giúp kiểm soát ổn định nhiệt động lực học trong lò kéo tinh thể Czochralski (Cz), nâng cao chất lượng phôi Silicon cho pin mặt trời và linh kiện bán dẫn.

Quang phổ đo màng mỏng
Camera quang phổ đa năng TCM uScope
Là hệ thống đo quang phổ vi mô tiên tiến, TCM µScope (NXT) tích hợp đầu đo hiển vi chuyên dụng với kích thước điểm đo cực nhỏ đến 5µm. Thiết bị giúp phân tích chính xác bề dày màng mỏng (2nm - 25µm), hằng số quang học và màu sắc. Đây là giải pháp đo lường tối ưu cho công nghiệp bán dẫn, sản xuất màn hình phẳng (FPD) và màng phủ vật liệu.
Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo màng mỏng pin Lithium TCM R-NIR
Sở hữu công nghệ quang phổ không tiếp xúc tiên tiến, hệ thống đo độ dày màng mỏng TCM của NXT cung cấp tốc độ đo siêu tốc ≤ 2ms cùng độ phân giải chính xác ± 0.1 µm. Đây là giải pháp Cost-effective và đáng tin cậy nhất để giám sát chất lượng (QC) màng cách điện trong sản xuất pin Lithium, giúp phát hiện sớm các sai lệch nội tuyến, tối ưu vật liệu và loại trừ triệt để nguy cơ chập cháy pin.
Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo phản xạ và độ dày đa năng offline ETA-SST
Hệ thống đo quang phổ phản xạ ETA-SST từ NXT ứng dụng công nghệ cảm biến mảng tuyến tính, đo dải 380-1700 nm. Thiết bị đạt độ phân giải quang học đến 3.3 nm, giúp đo chính xác độ dày màng đơn/kép (0.1–30 µm). Với thiết kế gọn nhẹ, đây là giải pháp tối ưu hóa năng suất cho R&D và QA/QC linh kiện bán dẫn, kính quang học, bao bì.
Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo truyền quang và màu sắc đa năng offline ETA-CSS
Hệ thống đo độ truyền quang và màu sắc phòng thí nghiệm ETA-CSS của NXT sử dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, cung cấp độ chính xác chromaticity xyY đạt mức ±0.002. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu giúp kiểm soát chất lượng màng mỏng, màng lọc và kính quang học, hỗ trợ nâng cao hiệu suất sản xuất nhờ quy trình vận hành đơn giản.
Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo màng mỏng cho thủy tinh nhãn khoa ETA-ARC
Sở hữu công nghệ triệt tiêu phản xạ mặt sau độc quyền, hệ thống đo lớp phủ kính mắt ETA-ARC của NXT là giải pháp tối ưu cho việc kiểm tra chất lượng kính mắt. Thiết bị đo nhanh chóng phản xạ dư, màu sắc và độ dày lớp phủ cứng (0.1–20 µm) trong chưa đầy 0.2 giây mà không cần làm nhám hay sơn đen mặt sau, giúp bảo vệ nguyên vẹn mẫu đo.
Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo màng mỏng inline đa năng ETA-TCM

Hệ thống đo quang phổ inline ETA-TCM của NXT cung cấp giải pháp kiểm soát chất lượng màng mỏng 100% không phá hủy trực tiếp trên dây chuyền sản xuất. Thiết bị hỗ trợ đo đồng thời độ dày (0.1–30 µm), màu sắc, độ truyền qua, phản xạ và mật độ quang (OD1–OD7). Đây là giải pháp tối ưu giúp tiết kiệm nguyên liệu và nâng cao năng suất cho ngành màn hình, kính và bán dẫn.

Quang phổ đo màng mỏng
Quang phổ đo màng mỏng kính và thủy tinh khổ lớn Metis
Tích hợp quả cầu tích phân thông minh, hệ thống đo màng mỏng quang học Metis của NXT cung cấp khả năng kiểm soát chất lượng màng mỏng vượt trội nhờ dải phổ đo rộng 380–1070nm và tốc độ cực nhanh <0,1 giây/điểm. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu cho việc đo quang phổ phản xạ, truyền qua, độ dày màng và hằng số n&k trên màng cuộn và kính khổ lớn.
Đóng gói tiên tiến & Kiểm thử
Hàn dây siêu âm thủ công F&S Bondtec 5330

F&S Bondtec 5330 là dòng máy hàn dây Wedge-Wedge chuyên dụng cho dây vàng, dây nhôm 17,5–75 µm và ribbon đến 250 µm. Tích hợp trục Z truyền động bằng motor bước tuyến tính nạp và cắt dây tự động bảo đảm độ lặp lại mối hàn cao phù hợp cho R&D, chế tạo mẫu, sản xuất quy mô nhỏ và sửa chữa vi mạch.

 

Đang hiển thị 84 trong 119 kết quả
Tải thêm