NANOS được thiết kế kích thước nhỏ gọn, hiện đại, cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao (< 8nm) và phân tích nguyên tố nhanh chóng chất lượng cao với độ phóng đại 200.000x. NANOS trở thành giải pháp lý tưởng cho các ứng dụng nghiên cứu, công nghiệp và môi trường.

Sở hữu công nghệ chụp cắt lớp (APT), kính hiển vi dò nguyên tử EIKOS-UV đem tới khả năng phát hiện đơn nguyên tử đạt độ phân giải không gian gần nguyên tử. Thiết bị cung cấp bản đồ thành phần 3D định lượng, là giải pháp Cost-effective tối ưu cho nghiên cứu luyện kim, sản xuất bồi đắp (in 3D) và màng mỏng với hiệu suất vượt trội.

Jupiter XR là AFM mẫu lớn tích hợp cả quét tốc độ cao và dải quét mở rộng trong cùng một đầu dò (XR scanner). Công nghệ blueDrive™ Tapping Mode độc quyền giúp đơn giản hóa vận hành, tăng độ lặp lại và kéo dài tuổi thọ đầu dò. Hệ thống laser và detector được điều khiển hoàn toàn bằng phần mềm. Giải pháp lý tưởng cho đo lường công nghiệp, R&D vật liệu, bán dẫn, polymer và nghiên cứu đa dạng.

Danh mục sản phẩm của SPECS đã được mở rộng với dòng hệ thống quang phổ XPS ProvenX, đại diện cho đỉnh cao từ nền tảng kiến thức rộng lớn của chúng tôi trong việc phát triển và sản xuất các hệ thống phân tích toàn diện nhằm đáp ứng những yêu cầu khoa học khắt khe nhất. ProvenX bao gồm một loạt các hệ thống XPS chuyên dụng cho ARPES, µ-ARPES, Kính hiển vi động lượng (Momentum Microscopy), XPS/UPS cũng như NAP-XPS.

Là máy nhiễu xạ điện tử ngang chuyên dụng đầu tiên trên thế giới, ELDICO ED-1 kết hợp nguồn tia 160 keV và đầu dò DECTRIS QUADRO. Thiết bị đạt độ phân giải <0.84 Å, giúp giải mã cấu trúc tinh thể nano (10–1000 nm) nhanh chóng. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu cho nghiên cứu dược phẩm, vật liệu pin và hóa chất nông nghiệp.

Vitesse là hệ thống khối phổ plasma kết nối bộ phân tích thời gian bay (ICP-TOF MS), được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng đa nguyên tố tốc độ cao như chụp ảnh laser ablation và phân tích nano hạt. Sở hữu cell phản ứng phân đoạn và khả năng loại bỏ nhiễu mạnh mẽ. Giải pháp lý tưởng cho nghiên cứu địa hóa, sinh học, môi trường và vật liệu.

EnviroESCA của SPECS là hệ thống quang phổ electron phân tích hóa học trong điều kiện môi trường thực tế nhờ công nghệ (N)AP-XPS đột phá. Thiết bị hoạt động ở áp suất lên tới hàng trăm mbar, tích hợp nguồn tia X đơn sắc Al Kα micro-focused và Environmental Charge Compensation giúp khử nạp nền tự động. EnviroESCA rút ngắn tối đa thời gian từ nạp đến đo mẫu, lý tưởng cho nghiên cứu vật liệu sinh học, polyme, pin, xúc tác và chất lỏng

QuantumLeap là hệ thống quang phổ hấp thụ tia X (XAS) tiên tiến với hai chế độ truyền qua và huỳnh quang. Hệ thống có dải năng lượng rộng từ 4,5 đến 25 keV và là XAS duy nhất trong phòng thí nghiệm có hiệu suất tương đương Synchrotron mang lại hiệu quả ngay tại phòng thí nghiệm, giải pháp cho lĩnh vực Pin và nhiên liệu, chất xúc tác, nghiên cứu về các nguyên tố nặng...

Hệ thống XAS đầu tiên có khả năng phân tích mẫu có số nguyên tử thấp và phân tích điểm siêu nhỏ. Cho phép đo XANES ở mức 0,7 eV và EXAFS trong vòng vài giây hoặc vài phút. MicroXAS với kích thước điểm 100 micron với bệ mẫu di chuyển tự động cho phép lập bản đồ XAS ở độ phân giải 100 µm trên một mẫu. Là giải pháp hàng đầu cho nghiên cứu pin, xúc tác và khoa học vật liệu.

TriLambdaXRM-30 (nanoXRM) ứng dụng công nghệ X-ray optics độc quyền của Sigray cung cấp độ phân giải 35nm đỉnh cao. Thiết bị tích hợp đồng thời lên đến 3 nguồn năng lượng tia X (X-ray energies) giúp tối ưu hóa độ tương phản hình ảnh 3D nanoXRM cho mọi loại vật liệu từ polymer đến kim loại, mang lại giải pháp không phá hủy mẫu hoàn hảo cho pin và sinh học.

SPECS FE-LEEM/PEEM P90 Series là hệ thống kính hiển vi điện tử bề mặt thế hệ mới, kết hợp đột phá giữa kỹ thuật LEEM và PEEM trong một thiết kế mô-đun tối giản, siêu ổn định. Được trang bị nguồn súng phát xạ trường lạnh (Cold Field Emission Gun) và bộ lọc năng lượng tích hợp, hệ thống mang lại khả năng phân tích phổ vi mô và hiển thị ảnh cấu trúc màng mỏng với độ phân giải không gian vượt trội dưới 2nm. Đây là giải pháp phân tích tối ưu cho các nghiên cứu động học bề mặt in situ, khoa học vật liệu tiên tiến và công nghệ nano

CIQTEK HEM6000 tích hợp các công nghệ như electron gun độ sáng cao với dòng điện chùm lớn, hệ thống làm lệch chùm electron tốc độ, cơ chế giảm tốc mẫu bằng điện áp cao. Thiết bị tăng tốc độ thu ảnh cấu trúc nano lớn nhanh gấp 5 lần FESEM thông thường, mang lại giải pháp tái dựng 3D quy mô lớn hoàn hảo cho ngành bán dẫn và sinh học (biological 3D reconstruction).

SPECS EnviroMETROS là thế hệ hệ thống XPS đo lường bề mặt (Surface Hybrid Metrology) mang tính cách mạng, được thiết kế chuyên dụng cho việc phân tích thành phần hóa học theo chiều sâu của màng mỏng từ quy mô phòng thí nghiệm đến nhà máy sản xuất bán dẫn. Hệ thống tích hợp cốt lõi kỹ thuật quang phổ ảnh điện tử tia X phân giải góc (ARXPS) tự động hóa hoàn toàn, kết hợp linh hoạt đa nguồn năng lượng tia X và khả năng vận hành trong dải áp suất cực rộng từ chân không siêu cao (UHV) đến cận áp suất khí quyển (NAP). Đây là giải pháp tối ưu để phân tích cấu trúc lớp và đặc tính vật liệu mà không phá hủy mẫu.