Bỏ qua để đến Nội dung
Khối phổ ion thứ cấp IMS 7f-Auto

Giá:

0 ₫

Hệ thống lắng đọng hơi vật lý PRO Line PVD 75
Hệ thống lắng đọng hơi vật lý PRO Line PVD 75
Quang phổ hấp thụ tia X QuantumLeap
Quang phổ hấp thụ tia X QuantumLeap

Khối phổ ion thứ cấp IMS 7f-Auto

Sở hữu công nghệ SIMS hội tụ kép từ tính, khối phổ kế ion thứ cấp IMS 7f-Auto cung cấp khả năng phân giải chiều sâu xuất sắc với giới hạn phát hiện cỡ ppb. Đây là giải pháp phân tích hoàn toàn tự động mang lại thông lượng cao cho ngành bán dẫn, quang điện và vật liệu, giúp tối đa hóa năng suất nhờ khả năng vận hành liên tục 24/7.

2 người đang xem sản phẩm này ngay bây giờ
0 ₫ 0 ₫

  • Lĩnh vực nghiên cứu
  • Thương hiệu - Cameca
  • Vật liệu mẫu
Cameca
Cameca

Hãng sản xuất số 1 thế giới Khối phổ Ion thứ cấp (SIMS) và Thiết bị chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử (APT)

Thẻ

Đặc điểm chính


  • Độ phân giải chiều sâu vượt trội: Chế độ vận hành nguồn ion ở mức năng lượng va chạm thấp (500 eV đối với O2+) giúp phân tích chi tiết bề mặt cấy ghép nông và cấu trúc màng mỏng với độ nhạy tối ưu.
  • Tự động hóa thông lượng cao: Khoang lưu trữ có động cơ tự động thay đổi tới 6 khay mẫu, kết hợp thao tác truyền tự động, cho phép thiết lập phân tích đo chuỗi không cần giám sát.
  • Khả năng tạo ảnh ion 3D (3D Ion Imaging): Thu nhận chuỗi hình ảnh phân bố nguyên tố liên tục theo chiều sâu và tái tạo lại cấu trúc 3D siêu hiển vi thông qua phần mềm WinImage mạnh mẽ.
  • Hệ thống kép nguồn ion O2+ và Cs+: Cung cấp tốc độ phún xạ nhanh nhạy với cả hai chế độ phân tích gốc ion thứ cấp mang điện tích âm và điện tích dương.
  • Bù điện tích tự động bằng súng NEG: Súng điện tử tới vuông góc (NEG) loại bỏ hiệu ứng dồn tụ điện tích bề mặt, đảm bảo đo lường dễ dàng, chính xác trên mọi vật liệu cách điện như thủy tinh, gốm.
  • Phần mềm khu vực lưới (Checkerboard): Tùy chỉnh vùng phân tích để loại bỏ các ảnh hưởng nhiễu ở viền hố phún xạ (crater edge effects), giúp cải thiện chất lượng tín hiệu theo chiều sâu một cách đột phá.

Mô tả chi tiết


Công nghệ khối phổ hội tụ kép tiên tiến

Được kế thừa và phát triển từ hệ thống danh tiếng của CAMECA, IMS 7f-Auto ứng dụng công nghệ khu vực từ tính hội tụ kép (magnetic sector double focusing) với khả năng chuyển đổi đỉnh khối lượng (peak switching) siêu nhanh. Cấu trúc quang học ion độc đáo kết hợp cùng hệ thống phát hiện có dải động học mở rộng (10 decades) giúp công cụ luôn duy trì độ ổn định chùm tia cao nhất. Nhờ vậy, thiết bị mang lại độ nhạy phân tích nguyên tố và đồng vị không có đối thủ trên thị trường, với giới hạn phát hiện vết trải dài từ ppm xuống tận mức siêu vết ppb.

Định lượng độ sâu không nhiễu cho vật liệu phức tạp

Trong ngành bán dẫn hay sản xuất thiết bị LED và pin quang điện, việc xác định chính xác sự phân bố không gian của các tạp chất hay chất kích tạp (dopants) ở mức vi mô luôn là rào cản rất lớn. IMS 7f-Auto giải quyết triệt để điểm nghẽn này với cơ chế bù điện NEG dành cho màng cách ly, và môi trường chân không siêu cao (UHV) cho phép loại trừ nhiễu phân tích các nguyên tố nhẹ khắt khe như Hydro, Carbon, Nitơ, Oxy. Hơn thế nữa, tính năng Checkerboard tích hợp sẵn còn tối ưu hóa bề mặt tính toán sâu, cung cấp dữ liệu phân tích có tính đại diện tuyệt đối so với các kỹ thuật hiển vi quang phổ thông thường.

Năng lực phân tích chuỗi tự động quy mô công nghiệp

Để thỏa mãn chuẩn mực năng suất khổng lồ, IMS 7f-Auto được tái thiết kế với khoang mẫu có động cơ chứa sẵn 6 đế mẫu 1-inch, hỗ trợ cơ chế nạp/dỡ tải đa điểm từ xa. Dưới sự điều phối của bộ ứng dụng tiên tiến, các quy trình từ căn chỉnh bộ thu, tinh chỉnh khẩu độ liên kết hình ảnh đến tính toán chuỗi khối lượng được tự động kích hoạt tuần tự. Bất kể hoạt động độc lập xuyên đêm (24h/ngày), hệ thống vẫn duy trì sự xuất sắc về độ tái lập hình thái liều lượng (Dose reproducibility đạt RSD < 0.5%), giải phóng nhân sự kỹ thuật khỏi sự can thiệp thủ công.

Thông số kỹ thuật chi tiết


Thành phần / Tính năng Chi tiết thông số kỹ thuật
Hệ thống nguồn ion sơ cấp (Primary Column) • Thiết kế dạng thẳng hàng (In-line) thế hệ mới giúp tối ưu hóa việc căn chỉnh chùm tia .
  • Gắn đồng thời hai nguồn ion độ chói cao: Duoplasmatron (phân tích các nguyên tố có độ âm điện thấp) và nguồn vi chùm Cesium (Cs) (phân tích các nguyên tố có độ âm điện cao). Nguồn Cs có cơ chế trượt tự động điều khiển bằng máy tính .
  • Hệ thống trích xuất gia tốc - giảm tốc (accel-decel) cho phép năng lượng va chạm của ion sơ cấp xuống mức thấp 500 eV, giúp đạt độ phân giải chiều sâu cực tốt.
Bộ phân tích khối phổ (Mass Spectrometer) • Hệ thống phân tích khối phổ tập trung kép khu vực từ tính (Magnetic sector double focusing mass spectrometer) .
  • Tốc độ chuyển đổi đỉnh khối lượng (peak switching) nhanh chóng.
Hệ thống phát hiện (Detection System) • Kết hợp 01 Cốc Faraday (Faraday Cup) và 01 Bộ nhân electron (Electron Multiplier) .
  • Dải đo đếm rộng lên tới 10 thập kỷ (10 decades of dynamic range).
Buồng lưu trữ mẫu tự động (Automated Storage Chamber) • Buồng lưu trữ được cơ giới hóa (motorized), lưu giữ lên tới 6 khay chứa mẫu (đường kính 1 inch) trong môi trường chân không cao .
  • Cơ chế chuyển đổi mẫu giữa buồng lưu trữ và buồng phân tích được tự động hóa hoàn toàn bằng máy tính.
Chế độ ghi hình ảnh ion (Imaging Capabilities) Chế độ kính hiển vi (Direct Ion Imaging / Microscope Mode): Thu nhận hình ảnh trực tiếp với độ phân giải ngang đạt tới ~1 µm (tối ưu cho bản đồ hóa vùng lớn và phân tích 3D nhanh) .
  Chế độ quét vi dò (Scanning Ion Imaging / Microprobe Mode): Quét chùm tia sơ cấp hội tụ siêu nhỏ trên bề mặt, cho độ phân giải ngang dưới mức micromet (sub-micron).
Khả năng bù điện tích mẫu cách điện (Insulator Analysis) • Trang bị súng electron chiếu thẳng góc (Normal-Incidence Electron Gun - NEG) .
  • Cơ chế tự động điều chỉnh bù điện tích cho phép phân tích chuẩn xác các vật liệu cách điện (thủy tinh, kim cương nhân tạo, cấu trúc đa lớp...) ở chế độ ion âm.
Độ lặp lại và Hiệu suất vận hành • Độ lệch chuẩn tương đối về liều lượng (Dose reproducibility): RSD < 0.5% (đạt mức 0.46% kiểm nghiệm thực tế với Arsenic trong Silicon) giữa các cửa sổ đo và giữa các khay chứa mẫu khác nhau .
  • Khả năng vận hành liên tục 24/7 không cần giám sát trực tiếp từ người vận hành.
Phần mềm tích hợp WinCurve: Xử lý dữ liệu định hình độ sâu và quang phổ khối, hiệu chuẩn thang đo đa lớp .
  WinImage: Tái dựng hình ảnh 3D, xử lý xếp lớp màu RGB, phân tích ROI .
  Checkerboard: Tối ưu hóa thu nhận dữ liệu, loại bỏ hiệu ứng rìa hố sputter (crater edge effects) .
  APM (Tùy chọn): Phần mềm quét hạt tự động cho phép sàng lọc và phân tích nhanh thành phần đồng vị của hàng ngàn hạt mẫu trong vài giờ.


Lĩnh vực nghiên cứu Khoa học Vật liệu hoặc Công nghệ Bán dẫn
Vật liệu mẫu Kim loại & Hợp kim hoặc Vật liệu tiên tiến
Thương hiệu Cameca
Khối phổ ion thứ cấp IMS 7f-Auto
Khối phổ ion thứ cấp IMS 7f-Auto
0 ₫