Bỏ qua để đến Nội dung
Bộ lọc
Cửa hàng
2 mục được tìm thấy.
Trạm đo & Kiểm thử
Máy đo độ cứng nano (Nanoindentation Tester) ENT-5

Hệ thống đo độ cứng nano mang lại độ lặp lại dữ liệu (data reproducibility) cao nhờ giảm thiểu tối đa các tác động nhiễu từ môi trường đo lường.Tải trọng thử nghiệm: 0.5 µN ~ 2 N. Vận hành đơn giản và Độ lặp lại dữ liệu cao 


Hệ siêu lạnh
Trạm đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử
Hệ thống đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử, cho phép đặc trưng hóa thiết bị quantum và mạch siêu dẫn ở nhiệt độ cực thấp, hỗ trợ nghiên cứu và phát triển công nghệ quantum computing trong môi trường wafer-level.
Đang hiển thị 2 trong 2 kết quả