Bỏ qua để đến Nội dung
Bộ lọc
Cửa hàng
7 mục được tìm thấy.
Trạm đo & Kiểm thử
Máy đo độ cứng nano (Nanoindentation Tester) ENT-5

Hệ thống đo độ cứng nano mang lại độ lặp lại dữ liệu (data reproducibility) cao nhờ giảm thiểu tối đa các tác động nhiễu từ môi trường đo lường.Tải trọng thử nghiệm: 0.5 µN ~ 2 N. Vận hành đơn giản và Độ lặp lại dữ liệu cao 


Hệ siêu lạnh
Trạm đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử
Hệ thống đo kiểm wafer cryogenic cho chip lượng tử, cho phép đặc trưng hóa thiết bị quantum và mạch siêu dẫn ở nhiệt độ cực thấp, hỗ trợ nghiên cứu và phát triển công nghệ quantum computing trong môi trường wafer-level.
Kiểm tra và đo lường Wafer
Quang phổ đo màng mỏng pin mặt trời Helios SCAN-tn
Ứng dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, hệ thống đo lớp phủ Helios SCAN-tn cung cấp khả năng phân tích độ dày và chiết suất màng mỏng Silicon Nitride với tốc độ <0.5s/điểm. Đây là giải pháp đo không tiếp xúc dành riêng cho các tấm wafer pin mặt trời, giúp tối ưu hóa quy trình kiểm soát chất lượng lớp chống phản xạ (AR) một cách toàn diện.
Kiểm tra và đo lường Wafer
Quang phổ đo màng mỏng pin mặt trời Helios-r8
Là hệ thống đo lường lớp phủ Poly-Si tiên tiến, Helios-r8 cung cấp tốc độ đo siêu tốc ≤ 200ms với độ chính xác độ dày ±1nm. Dựa trên công nghệ phản xạ quang học không tiếp xúc, thiết bị giúp kiểm soát chất lượng và tối ưu hóa quy trình phủ màng trên tấm wafer năng lượng mặt trời TOPCon, đáp ứng hoàn hảo cho phân tích Inline và Offline.
Kiểm tra và đo lường Wafer
Quang phổ đo màng mỏng pin mặt trời Helios-rc
Tích hợp công nghệ cầu tích phân và quang phổ kế phân giải cao, máy đo phản xạ Helios-rc phân tích chính xác độ phản xạ, màu sắc, độ dày lớp phủ với tốc độ <100ms. Thiết bị là giải pháp Cost-effective lý tưởng giúp kiểm soát quy trình tạo rãnh (texturing) và ăn mòn (etching) bề mặt wafer pin mặt trời (PERC, TOPCon), tối ưu hóa hiệu suất quang điện.
Kiểm tra và đo lường Wafer
Hệ thống kiểm tra Macro để bàn VEpioneer® MACRO

VEpioneer® MACRO là hệ thống kiểm tra bằng tầm nhìn siêu phổ (Hyperspectral Vision) để bàn, tích hợp đầy đủ và vận hành chỉ với một nút bấm. Thiết bị cung cấp khả năng kiểm tra không phá hủy, xác định các đặc tính bề mặt, phát hiện màng mỏng và nhận diện sai lệch so với tiêu chuẩn sản xuất với tốc độ quét cực nhanh.

Kiểm tra và đo lường Wafer
Hệ thống kiểm tra Hyperspectral VEreveal® PVA TePla

VEreveal® kết hợp độc đáo giữa quang phổ quang học và công nghệ hình ảnh siêu phổ (hyperspectral) để kiểm tra bề mặt không phá hủy. Thiết bị cho phép đánh giá toàn diện các thuộc tính vật liệu, độ dày lớp phủ và phát hiện khuyết tật, nhiễm bẩn trên wafer lên đến 300mm với độ chính xác cao và tốc độ nhanh, phù hợp cho kiểm soát chất lượng sản xuất.

Đang hiển thị 7 trong 7 kết quả