Tích hợp công nghệ cầu tích phân và quang phổ kế phân giải cao, máy đo phản xạ Helios-rc phân tích chính xác độ phản xạ, màu sắc, độ dày lớp phủ với tốc độ <100ms. Thiết bị là giải pháp Cost-effective lý tưởng giúp kiểm soát quy trình tạo rãnh (texturing) và ăn mòn (etching) bề mặt wafer pin mặt trời (PERC, TOPCon), tối ưu hóa hiệu suất quang điện.