Sở hữu công nghệ quang phổ RT-Method độc quyền, hệ thống đo Xelas LAB/SCAN-oled cho phép xác định độ dày (2–500nm) và hằng số quang học (n&k) hoàn toàn không tiếp xúc. Đây là giải pháp đo lường lý tưởng giúp kiểm soát chất lượng và R&D màng mỏng linh kiện OLED, vật liệu hữu cơ và điện cực ITO.

Ứng dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, hệ thống đo lớp phủ Helios SCAN-tn cung cấp khả năng phân tích độ dày và chiết suất màng mỏng Silicon Nitride với tốc độ <0.5s/điểm. Đây là giải pháp đo không tiếp xúc dành riêng cho các tấm wafer pin mặt trời, giúp tối ưu hóa quy trình kiểm soát chất lượng lớp chống phản xạ (AR) một cách toàn diện.

Là hệ thống đo quang phổ vi mô tiên tiến, TCM µScope (NXT) tích hợp đầu đo hiển vi chuyên dụng với kích thước điểm đo cực nhỏ đến 5µm. Thiết bị giúp phân tích chính xác bề dày màng mỏng (2nm - 25µm), hằng số quang học và màu sắc. Đây là giải pháp đo lường tối ưu cho công nghiệp bán dẫn, sản xuất màn hình phẳng (FPD) và màng phủ vật liệu.

Sở hữu công nghệ quang phổ không tiếp xúc tiên tiến, hệ thống đo độ dày màng mỏng TCM của NXT cung cấp tốc độ đo siêu tốc ≤ 2ms cùng độ phân giải chính xác ± 0.1 µm. Đây là giải pháp Cost-effective và đáng tin cậy nhất để giám sát chất lượng (QC) màng cách điện trong sản xuất pin Lithium, giúp phát hiện sớm các sai lệch nội tuyến, tối ưu vật liệu và loại trừ triệt để nguy cơ chập cháy pin.

Hệ thống đo quang phổ phản xạ ETA-SST từ NXT ứng dụng công nghệ cảm biến mảng tuyến tính, đo dải 380-1700 nm. Thiết bị đạt độ phân giải quang học đến 3.3 nm, giúp đo chính xác độ dày màng đơn/kép (0.1–30 µm). Với thiết kế gọn nhẹ, đây là giải pháp tối ưu hóa năng suất cho R&D và QA/QC linh kiện bán dẫn, kính quang học, bao bì.

Hệ thống đo độ truyền quang và màu sắc phòng thí nghiệm ETA-CSS của NXT sử dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, cung cấp độ chính xác chromaticity xyY đạt mức ±0.002. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu giúp kiểm soát chất lượng màng mỏng, màng lọc và kính quang học, hỗ trợ nâng cao hiệu suất sản xuất nhờ quy trình vận hành đơn giản.

Sở hữu công nghệ triệt tiêu phản xạ mặt sau độc quyền, hệ thống đo lớp phủ kính mắt ETA-ARC của NXT là giải pháp tối ưu cho việc kiểm tra chất lượng kính mắt. Thiết bị đo nhanh chóng phản xạ dư, màu sắc và độ dày lớp phủ cứng (0.1–20 µm) trong chưa đầy 0.2 giây mà không cần làm nhám hay sơn đen mặt sau, giúp bảo vệ nguyên vẹn mẫu đo.

Tích hợp quả cầu tích phân thông minh, hệ thống đo màng mỏng quang học Metis của NXT cung cấp khả năng kiểm soát chất lượng màng mỏng vượt trội nhờ dải phổ đo rộng 380–1070nm và tốc độ cực nhanh <0,1 giây/điểm. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu cho việc đo quang phổ phản xạ, truyền qua, độ dày màng và hằng số n&k trên màng cuộn và kính khổ lớn.

Là hệ thống đo độ dày màng OLED nội tuyến Xelas INLINE-oled tiên tiến, thiết bị tích hợp phương pháp quang học RT độc quyền của NXT giúp kiểm soát chính xác độ dày (2-500nm) và n&k theo thời gian thực. Với thiết kế đo không tiếp xúc, giải pháp tối ưu này giúp các nhà sản xuất màn hình và chiếu sáng OLED tăng năng suất và sản lượng vượt trội.

Là hệ thống đo lường lớp phủ Poly-Si tiên tiến, Helios-r8 cung cấp tốc độ đo siêu tốc ≤ 200ms với độ chính xác độ dày ±1nm. Dựa trên công nghệ phản xạ quang học không tiếp xúc, thiết bị giúp kiểm soát chất lượng và tối ưu hóa quy trình phủ màng trên tấm wafer năng lượng mặt trời TOPCon, đáp ứng hoàn hảo cho phân tích Inline và Offline.

Tích hợp công nghệ cầu tích phân và quang phổ kế phân giải cao, máy đo phản xạ Helios-rc phân tích chính xác độ phản xạ, màu sắc, độ dày lớp phủ với tốc độ <100ms. Thiết bị là giải pháp Cost-effective lý tưởng giúp kiểm soát quy trình tạo rãnh (texturing) và ăn mòn (etching) bề mặt wafer pin mặt trời (PERC, TOPCon), tối ưu hóa hiệu suất quang điện.