Danh mục sản phẩm của SPECS đã được mở rộng với dòng hệ thống quang phổ XPS ProvenX, đại diện cho đỉnh cao từ nền tảng kiến thức rộng lớn của chúng tôi trong việc phát triển và sản xuất các hệ thống phân tích toàn diện nhằm đáp ứng những yêu cầu khoa học khắt khe nhất. ProvenX bao gồm một loạt các hệ thống XPS chuyên dụng cho ARPES, µ-ARPES, Kính hiển vi động lượng (Momentum Microscopy), XPS/UPS cũng như NAP-XPS.

Là máy nhiễu xạ điện tử ngang chuyên dụng đầu tiên trên thế giới, ELDICO ED-1 kết hợp nguồn tia 160 keV và đầu dò DECTRIS QUADRO. Thiết bị đạt độ phân giải <0.84 Å, giúp giải mã cấu trúc tinh thể nano (10–1000 nm) nhanh chóng. Đây là giải pháp Cost-effective tối ưu cho nghiên cứu dược phẩm, vật liệu pin và hóa chất nông nghiệp.

EnviroESCA của SPECS là hệ thống quang phổ electron phân tích hóa học trong điều kiện môi trường thực tế nhờ công nghệ (N)AP-XPS đột phá. Thiết bị hoạt động ở áp suất lên tới hàng trăm mbar, tích hợp nguồn tia X đơn sắc Al Kα micro-focused và Environmental Charge Compensation giúp khử nạp nền tự động. EnviroESCA rút ngắn tối đa thời gian từ nạp đến đo mẫu, lý tưởng cho nghiên cứu vật liệu sinh học, polyme, pin, xúc tác và chất lỏng

QuantumLeap là hệ thống quang phổ hấp thụ tia X (XAS) tiên tiến với hai chế độ truyền qua và huỳnh quang. Hệ thống có dải năng lượng rộng từ 4,5 đến 25 keV và là XAS duy nhất trong phòng thí nghiệm có hiệu suất tương đương Synchrotron mang lại hiệu quả ngay tại phòng thí nghiệm, giải pháp cho lĩnh vực Pin và nhiên liệu, chất xúc tác, nghiên cứu về các nguyên tố nặng...

Hệ thống XAS đầu tiên có khả năng phân tích mẫu có số nguyên tử thấp và phân tích điểm siêu nhỏ. Cho phép đo XANES ở mức 0,7 eV và EXAFS trong vòng vài giây hoặc vài phút. MicroXAS với kích thước điểm 100 micron với bệ mẫu di chuyển tự động cho phép lập bản đồ XAS ở độ phân giải 100 µm trên một mẫu. Là giải pháp hàng đầu cho nghiên cứu pin, xúc tác và khoa học vật liệu.

Hệ thống đo quang phổ inline ETA-TCM của NXT cung cấp giải pháp kiểm soát chất lượng màng mỏng 100% không phá hủy trực tiếp trên dây chuyền sản xuất. Thiết bị hỗ trợ đo đồng thời độ dày (0.1–30 µm), màu sắc, độ truyền qua, phản xạ và mật độ quang (OD1–OD7). Đây là giải pháp tối ưu giúp tiết kiệm nguyên liệu và nâng cao năng suất cho ngành màn hình, kính và bán dẫn.

SPECS EnviroMETROS là thế hệ hệ thống XPS đo lường bề mặt (Surface Hybrid Metrology) mang tính cách mạng, được thiết kế chuyên dụng cho việc phân tích thành phần hóa học theo chiều sâu của màng mỏng từ quy mô phòng thí nghiệm đến nhà máy sản xuất bán dẫn. Hệ thống tích hợp cốt lõi kỹ thuật quang phổ ảnh điện tử tia X phân giải góc (ARXPS) tự động hóa hoàn toàn, kết hợp linh hoạt đa nguồn năng lượng tia X và khả năng vận hành trong dải áp suất cực rộng từ chân không siêu cao (UHV) đến cận áp suất khí quyển (NAP). Đây là giải pháp tối ưu để phân tích cấu trúc lớp và đặc tính vật liệu mà không phá hủy mẫu.