FIB-SEM|DB550 tích hợp công nghệ quang học electron SuperTunnel đột phá cùng chùm ion Gallium (Ga⁺ liquid metal ion source), mang lại độ phân giải 3nm và hình ảnh sắc nét. Thiết bị giúp tối ưu hóa quy trình phân tích và chuẩn bị mẫu TEM specimen preparation, ứng dụng hoàn hảo cho lĩnh vực bán dẫn (semiconductor) và khoa học vật liệu.
