NANOS được thiết kế kích thước nhỏ gọn, hiện đại, cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao (< 8nm) và phân tích nguyên tố nhanh chóng chất lượng cao với độ phóng đại 200.000x. NANOS trở thành giải pháp lý tưởng cho các ứng dụng nghiên cứu, công nghiệp và môi trường.

AttoMap-310 cung cấp khả năng lập bản đồ nguyên tố vi lượng, độ nhạy vượt trội gấp 1000 lần SEM-EDS. Công nghệ nguồn tia X độc quyền từ Sigray cho phép đạt độ phân giải xuống dưới < 3-5µm và tốc độ lên tới 5ms/điểm, là giải pháp đột phá cho nghiên cứu bán dẫn, khoáng vật học và khoa học vật liệu.

Vitesse là hệ thống khối phổ plasma kết nối bộ phân tích thời gian bay (ICP-TOF MS), được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng đa nguyên tố tốc độ cao như chụp ảnh laser ablation và phân tích nano hạt. Sở hữu cell phản ứng phân đoạn và khả năng loại bỏ nhiễu mạnh mẽ. Giải pháp lý tưởng cho nghiên cứu địa hóa, sinh học, môi trường và vật liệu.

EnviroESCA của SPECS là hệ thống quang phổ electron phân tích hóa học trong điều kiện môi trường thực tế nhờ công nghệ (N)AP-XPS đột phá. Thiết bị hoạt động ở áp suất lên tới hàng trăm mbar, tích hợp nguồn tia X đơn sắc Al Kα micro-focused và Environmental Charge Compensation giúp khử nạp nền tự động. EnviroESCA rút ngắn tối đa thời gian từ nạp đến đo mẫu, lý tưởng cho nghiên cứu vật liệu sinh học, polyme, pin, xúc tác và chất lỏng

TriLambdaXRM-30 (nanoXRM) ứng dụng công nghệ X-ray optics độc quyền của Sigray cung cấp độ phân giải 35nm đỉnh cao. Thiết bị tích hợp đồng thời lên đến 3 nguồn năng lượng tia X (X-ray energies) giúp tối ưu hóa độ tương phản hình ảnh 3D nanoXRM cho mọi loại vật liệu từ polymer đến kim loại, mang lại giải pháp không phá hủy mẫu hoàn hảo cho pin và sinh học.

CIQTEK HEM6000 tích hợp các công nghệ như electron gun độ sáng cao với dòng điện chùm lớn, hệ thống làm lệch chùm electron tốc độ, cơ chế giảm tốc mẫu bằng điện áp cao. Thiết bị tăng tốc độ thu ảnh cấu trúc nano lớn nhanh gấp 5 lần FESEM thông thường, mang lại giải pháp tái dựng 3D quy mô lớn hoàn hảo cho ngành bán dẫn và sinh học (biological 3D reconstruction).

SPECS EnviroMETROS là thế hệ hệ thống XPS đo lường bề mặt (Surface Hybrid Metrology) mang tính cách mạng, được thiết kế chuyên dụng cho việc phân tích thành phần hóa học theo chiều sâu của màng mỏng từ quy mô phòng thí nghiệm đến nhà máy sản xuất bán dẫn. Hệ thống tích hợp cốt lõi kỹ thuật quang phổ ảnh điện tử tia X phân giải góc (ARXPS) tự động hóa hoàn toàn, kết hợp linh hoạt đa nguồn năng lượng tia X và khả năng vận hành trong dải áp suất cực rộng từ chân không siêu cao (UHV) đến cận áp suất khí quyển (NAP). Đây là giải pháp tối ưu để phân tích cấu trúc lớp và đặc tính vật liệu mà không phá hủy mẫu.