Đặc điểm chính
- Độ phân giải nano 35nm: Hệ thống nanoXRM có độ phân giải cao trên thị trường nhờ công nghệ X-ray optics vượt trội hơn gấp 10 lần so với các dòng máy thông thường.
- Nguồn tia X Multi-Target siêu sáng: Thiết kế tản nhiệt kim cương độc quyền cho phép tăng công suất dòng, tạo ra chùm tia X cường độ mạnh giúp rút ngắn thời gian đo.
- Phân tích không phá hủy mẫu (Non-destructive): Cho phép theo dõi sự biến đổi cấu trúc vi mô theo thời gian thực, lý tưởng cho nghiên cứu tuổi thọ pin.
- Tích hợp linh hoạt ba bước sóng tia X trong một hệ thống duy nhất, tối ưu cho nhiều loại mẫu
- Đảm bảo hiệu suất vận hành ổn định và độ chính xác tối đa trong nghiên cứu vật liệu tiên tiến nhờ công nghệ độc quyền
Mô tả chi tiết
Công nghệ & Nguyên lý
TriLambda-30 hoạt động dựa trên nguyên lý kính hiển vi tia X 3D nano (nanoXRM), sử dụng hệ thống quang học kép bao gồm thấu kính phản xạ dạng parabol kép phối hợp với thấu kính nhiễu xạ cùng Zernike phase shift ring. Thiết bị kết hợp nguồn phát tia X đa mục tiêu siêu sáng có gắn kim cương để tản nhiệt tối đa, sinh ra chùm tia X đặc trưng mạnh mẽ ở dải năng lượng từ 2.7 keV đến 8.04 keV.
Ba bước sóng tia X (Tri-Lamba) trong một hệ thống duy nhất
Khi chụp ảnh nano, việc đổi mẫu từ polymer/mẫu sinh học (vật liệu mềm) sang kim loại thường đòi hỏi các thiết bị khác nhau do độ tương phản tia X thay đổi rất lớn. Độ tương phản tia X thay đổi đáng kể đối với từng năng lượng tia X, ảnh hưởng đến cả thời gian thu thập dữ liệu và quan trọng hơn là khả năng hiển thị của các cấu trúc. Ví dụ, 5,4 keV là tối ưu đối với các mẫu địa chất (SiO2) nhưng kém đối với các mẫu có kim loại bên trong. Đối với polyme và tế bào, năng lượng tia X mềm (2,7 keV) mang lại nhiều lợi ích hơn hẳn so với 8 keV.
TriLambda-30 giải quyết triệt để vấn đề này bằng việc tích hợp tối đa 3 bước sóng tia X (Tri-Lambda) trong 1 hệ thống để tối ưu tương phản.
Năng lượng kép (Tương phản kép)
Việc diễn giải các phép đo độ tương phản và giá trị CT có thể gặp khó khăn khi chụp ảnh chỉ sử dụng một năng lượng tia X duy nhất. Điều này là do sự hiện diện của các tính năng có độ phân giải phụ, chẳng hạn như độ xốp nano hoặc các nguyên tố hợp kim ở kích thước nano, làm thay đổi độ hấp thụ của mẫu dẫn đến sai sót trong phân đoạn hình ảnh và định lượng không chính xác số nguyên tử của vật liệu. Bằng cách tạo ảnh ở hai năng lượng chiếu sáng tia X khác nhau (năng lượng kép), TriLambda loại bỏ các lỗi như vậy.
Kết xuất bề mặt 3D của các NP Fe được phân đoạn (màu cam) liên quan đến các cụm than chì thu được với độ tương phản kép
Tích hợp/ Mở rộng:
Phần mềm GigaRecon Tomography: Phần mềm tái tạo ảnh chụp cắt lớp kết hợp thời gian tái tạo nhanh với bộ tính năng vượt trội. Tốc độ tái tạo đạt được dưới 45 giây đối với bộ dữ liệu 2048 x 2048 x 2200. Cho phép tái tạo hình ảnh chất lượng cao với thời gian thu thập dữ liệu ngắn hơn 5 lần, giúp tăng tốc đáng kể thời gian chụp ảnh cắt lớp so với phương pháp tái tạo FDK thông thường.
Phần mềm Sigray3D Acquisition: Thu thập dữ liệu trực quan, dễ dàng căn chỉnh mẫu và bắt đầu đo trong vài giây.



