Bỏ qua để đến Nội dung
Kính hiển vi lực nguyên tử Jupiter XR

Giá:

0 ₫

Chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử APT EIKOS
Chụp cắt lớp đầu dò nguyên tử APT EIKOS
Kính hiển vi lực nguyên tử Cypher S / Cypher ES
Kính hiển vi lực nguyên tử Cypher S / Cypher ES

Kính hiển vi lực nguyên tử Jupiter XR

Jupiter XR là AFM mẫu lớn tích hợp cả quét tốc độ cao và dải quét mở rộng trong cùng một đầu dò (XR scanner). Công nghệ blueDrive™ Tapping Mode độc quyền giúp đơn giản hóa vận hành, tăng độ lặp lại và kéo dài tuổi thọ đầu dò. Hệ thống laser và detector được điều khiển hoàn toàn bằng phần mềm. Giải pháp lý tưởng cho đo lường công nghiệp, R&D vật liệu, bán dẫn, polymer và nghiên cứu đa dạng.

5 người đang xem sản phẩm này ngay bây giờ
0 ₫ 0 ₫

  • Lĩnh vực nghiên cứu
  • Thương hiệu - Oxford Instruments
  • Vật liệu mẫu
Oxford Instruments
Oxford Instruments

Tập đoàn đa lĩnh vực nghiên cứu với các sản phẩm dẫn đầu phân khúc như AFM, Raman, Plasma, Confocal...

Đặc điểm chính


  • Một scanner cho mọi thứ – XR scanner đạt dải quét XY 100 μm và Z 12 μm, quét từ cấp độ nguyên tử đến vi cấu trúc 100 μm mà không cần thay đầu dò.
  • Tốc độ quét vượt trội – Nhiều mẫu có thể chụp ở tốc độ dòng ≥20 Hz (kích thước quét ≤10 μm), thời gian chụp ảnh điển hình <1 phút.
  • blueDrive™ Tapping Mode độc quyền – Sử dụng kích thích quang nhiệt (640 nm) thay vì áp điện, tăng độ ổn định, giảm mòn đầu dò, giá trị độ nhám lặp lại cao ngay cả sau 1000 ảnh.
  • Thiết lập tự động, dễ dùng – Căn chỉnh laser và detector bằng một cú click chuột (SpotOn), thay đầu dò nhanh trên scanner Z tháo rời. Bàn gắp mẫu 210 mm với chân không và nam châm, di chuyển toàn bộ wafer 200 mm chỉ trong 5 giây.
  • Nhiều chế độ AFM có sẵn – Bao gồm Contact, Tapping, Phase, LFM, Force curves, Nanolithography, AM-FM Viscoelastic Mapping, Contact Resonance, Dual AC, Loss Tangent, EFM, KPFM, MFM, DART PFM, Switching Spectroscopy PFM, Vector PFM. Tùy chọn CAFM, Fast Force Mapping.
  • Tích hợp metrology công nghiệp – Tự động hóa đo lường đa vị trí (multi-site) bằng MacroBuilder, hoàn thành mỗi vị trí trong ~1 phút. Cảm biến LVDT tuyến tính, không cần hiệu chuẩn lại, tin cậy cho các phép đo định lượng.

Mô tả chi tiết


Công nghệ & nguyên lý

Jupiter XR sử dụng công nghệ XR scanner tích hợp cả dải quét rộng (100 μm XY, 12 μm Z) và tốc độ cao nhờ cơ cấu flexure và cảm biến LVDT thế hệ mới (noise X/Y <150 pm, Z <35 pm). blueDrive Tapping Mode dùng diode laser 640 nm để kích thích quang nhiệt dao động của cantilever thay vì áp điện truyền thống, giúp ổn định biên độ và pha, giảm nhiễu, tăng độ lặp lại.

Hạn chế thông thường của AFM

AFM mẫu lớn (wafer 200 mm) thường đánh đổi độ phân giải / dải quét / tốc độ. Thiết lập AFM căn chỉnh thủ công tốn thời gian, cần kỹ thuật viên có kinh nghiệm. Mòn đầu dò ảnh hưởng đến đo độ nhám, metrology. Di chuyển vị trí trên wafer chậm, thiếu chính xác.

Ưu điểm của hệ thống Jupiter XR

  • XR scanner quét từ 0,1 nm đến 100 μm chỉ một đầu dò; tốc độ dòng lên 20 Hz → ảnh 512 dòng trong 26 giây.
  • SpotOn: căn chỉnh laser/detector một cú click. ModeMaster: tự động cấu hình chế độ. GetReal: hiệu chỉnh độ nhạy và hằng số lò xo không chạm mẫu.
  • blueDrive giảm mòn đầu dò → độ nhám lặp lại sau 1000 ảnh.
  • Bàn gắp mẫu 210 mm chân không, tốc độ 40 mm/s, di chuyển đến bất kỳ điểm nào trên wafer 200 mm trong 5 giây, độ chính xác micron.

Tích hợp & mở rộng

  • Phụ kiện: gia nhiệt nhiệt độ cao, liquid cell (tương tự MFP-3D).
  • Phần mềm MacroBuilder: tự động hóa hoàn toàn quy trình đo và phân tích ngoại tuyến, phù hợp QA/QC sản xuất.
  • LVDT tuyến tính, không cần hiệu chuẩn lại.

Thông số kỹ thuật chi tiết


Thông số

Giá trị

Đầu dò quét

XR scanner

Nguồn sáng

SLD, 670 nm, kích thước điểm ~10 μm

Đường kính mẫu tối đa

210 mm

Chiều cao mẫu tối đa

35 mm

Chế độ AFM cơ bản

Contact, Force curves, Frequency modulation, LFM, Nanolithography, Phase, Tapping, Tapping with digital Q control

Chế độ tùy chọn

CAFM với ORCA và Eclipse, Current mapping với Fast Force Mapping, Fast Force Mapping Mode

Phụ kiện tùy chọn

Gia nhiệt mẫu nhiệt độ cao, Tế bào lỏng

Vật liệu mẫu Kim loại & Hợp kim hoặc Polymer & Composite hoặc Gốm sứ & Thuỷ tinh
Lĩnh vực nghiên cứu Khoa học Vật liệu
Thương hiệu Oxford Instruments
Jupiter XR_Brochure.pdf
Tải xuống
Kính hiển vi lực nguyên tử Jupiter XR
Kính hiển vi lực nguyên tử Jupiter XR
0 ₫